კვალი ელემენტების ანალიზი

კვალი ელემენტების ანალიზი შესაფუთ მასალებში მძიმე მეტალების დაბალი დონის გამოვლენისა და იდენტიფიცირების საშუალებას იძლევა.

ეს ხელს უწყობს დამაბინძურებლების დადგენას ნიმუშებში ლითონის კვალი დონის განსაზღვრით. კვალი ელემენტების გამოვლენა მნიშვნელოვანია, რადგან ისინი გავლენას ახდენენ პროდუქტის ტოქსიკურობაზე და როგორ ურთიერთქმედებს ნივთიერება სხვა ქიმიკატებთან.

შეფუთვის მასალებზე, განსაკუთრებით ვერცხლისწყალზე, კადმიუმზე, დარიშხანსა და ტყვიაზე, ტარდება მრავალი ერთი ან მრავალ ელემენტიანი ანალიზი. ნიმუში მიკროელემენტების ანალიზის პროცესებში; ინდუქციურად შეწყვილებული პლაზმა (ICP-MS) ინდუქციურად დაწყვილებული პლაზმით - ოპტიკური ემისიის სპექტრომეტრია (ICP-OES) და მასის სპექტრომეტრია (ICP-MS) მრავალი სტრუქტურისთვის სპეციფიკური წინასწარი დამუშავების შემდეგ, როგორიცაა ექსტრაქცია, ფილტრაცია, ცხელი ფირფიტის მონელება, შერწყმა ან მიკროტალღური მონელება). მოწყობილობები.

შეგიძლიათ დაგვიკავშირდეთ კვალი ელემენტების ანალიზთან დაკავშირებით ყველა თქვენი შეკითხვისა და თხოვნის შესახებ.